信息摘要:
本設(shè)備適用于工業(yè)及電子產(chǎn)品的性能可靠性試驗(yàn),本試驗(yàn)具有較大的溫度控制范圍,性能指標(biāo)均達(dá)到GB-93《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》,GB-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》,適用于GB2423-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》、《試驗(yàn)低溫A:試
可編程恒溫恒濕測(cè)試箱畫面顯示功能操作
本設(shè)備適用于工業(yè)及電子產(chǎn)品的性能可靠性試驗(yàn),本試驗(yàn)具有較大的溫度控制范圍,性能指標(biāo)均達(dá)到GB-93《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》,GB-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》,適用于GB2423-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》、《試驗(yàn)低溫A:試驗(yàn)方法;試驗(yàn)高溫B:試驗(yàn)方法》及恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn),可有效的對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫及濕熱試驗(yàn)。
可編程恒溫恒濕測(cè)試箱滿足標(biāo)準(zhǔn):1、性能指針符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89(IEC68-2-1)3、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89(IEC68-2-2)4、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93(IEC68-2-3)5、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
可編程恒溫恒濕測(cè)試箱控制方式:
平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱加濕量等于濕熱損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。
可編程恒溫恒濕測(cè)試箱參數(shù)規(guī)格:指氣冷式在室溫20℃,空載時(shí)1型號(hào):DEJS-010D2內(nèi)箱尺寸:W1000XH1000XD1000mm⊥5